ソフトウェアアーキテクチャメトリクス アーキテクチャ品質を改善する10のアドバイス

ソフトウェアアーキテクチャメトリクス アーキテクチャ品質を改善する10のアドバイス

著: Christian Ciceri Eoin Woods
訳: 島田 浩二
著: Dave Farley Neal Ford Andrew Harmel-Law Michael Keeling Carola Lilienthal Joao Rosa Alexander von Zitzewitz Rene Weiss
出版社: オライリー・ジャパン

税込価格: ¥3,300

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作品情報

発売日: 2024年01月24日
ISBN: 9784814400607

276ページ

出版社からの紹介

ソフトウェアアーキテクチャのメトリクスをテーマにした事例集!
アーキテクチャの改善には、課題を定量化するメトリクスを定義し、目標を決めますが、ソフトウェアによって課題は様々なので、それぞれの状況や必要に応じたメトリクスを見つける必要があります。本書は、10人のベテランアーキテクトが、アーキテクチャメトリクスの事例を紹介します。アーキテクチャにおける適切な指標の選択や目標達成の測定、優先順位付け、プロセスの成功度の分析などについて事例をもとに解説します。

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